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塞貝克系數(shù)電阻測試儀先進(jìn)功能材料電測綜合測試系統(tǒng)- 絕緣電阻劣化（離子遷移）評估系統(tǒng) 儲能新材料電學(xué)綜合測試系統(tǒng) 半導(dǎo)體封裝材料真空探針臺空間電荷測試系統(tǒng) 電容器溫度特性評估系統(tǒng) 高頻高壓絕緣電阻、介電多通道極化裝置鐵電分析儀高壓功率放大器絕緣電阻率測試儀高低溫冷熱臺測試系統(tǒng) 50點(diǎn)耐壓測試儀電壓擊穿測定儀耐電弧試驗(yàn)儀探針臺漏電起痕試驗(yàn)儀多通道介電與電阻測試系統(tǒng)

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可測電氣絕緣材料的耐電弧試驗(yàn)儀

更新時(shí)間：2025-01-02

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可測電氣絕緣材料的耐電弧試驗(yàn)儀，電壓輸出穩(wěn)定性好。配備電壓、電流傳感器以保證試驗(yàn)數(shù)據(jù)的有效性。
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耐電弧試驗(yàn)儀/測試儀器

更新時(shí)間：2025-01-02

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耐電弧試驗(yàn)儀/測試儀器輸出與測量規(guī)格，保障測度的器質(zhì)，適用于電氣絕緣材料、塑料、薄膜、樹脂、云母、陶瓷、玻璃、絕緣漆等介質(zhì)在工頻電壓下耐電弧行的測試，也可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測以及新材料電學(xué)研究等用途。
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HCLD-3漏電起痕試驗(yàn)儀

更新時(shí)間：2024-08-29

型號：HCLD-3

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華測儀器-低壓漏電起痕試驗(yàn)儀是按IEC60695、GB4207/IEC60112等標(biāo)準(zhǔn)要求設(shè)計(jì)制造的試驗(yàn)儀器。適用于固體絕緣材料在潮濕條件下相比漏電起痕指數(shù)和耐漏電起痕指數(shù)的測定，具有簡便、準(zhǔn)確、可靠、實(shí)用等特點(diǎn)。
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HCDH-4耐電弧試驗(yàn)系統(tǒng)測試儀器

更新時(shí)間：2025-01-02

型號：HCDH-4

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CDH-4耐電弧試驗(yàn)系統(tǒng)測試儀器統(tǒng)電壓輸出穩(wěn)定性好。配備電壓、電流傳感器以保證試驗(yàn)數(shù)據(jù)的有效性。
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HCDH-4耐電弧試驗(yàn)儀/電氣絕緣材料測試

更新時(shí)間：2025-01-02

型號：HCDH-4

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耐電弧試驗(yàn)儀/電氣絕緣材料測試是專門為電氣絕緣材料測試而開發(fā)的高精密設(shè)備，絕緣材料抵抗由高壓電弧作用引起變質(zhì)的能力，通常用標(biāo)準(zhǔn)電弧焰在材料表面引起炭化至表面導(dǎo)電而電弧消失所需時(shí)間表示，單位是秒。為在板狀試樣上加上兩個(gè)分開一定距離的鎢電極，視需要以工頻高壓小電流在兩極間產(chǎn)生電弧。
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HCDH-300低壓漏電起痕測試儀器

更新時(shí)間：2024-08-26

型號：HCDH-300

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低壓漏電起痕測試儀器（電痕化指數(shù)試驗(yàn)）是在固體絕緣材料表面上，在規(guī)定尺寸（ 2mm × 5mm ）的鉑電極之間，施加某一電壓并定時(shí) （30s）定高度（ 35mm ）滴下規(guī)定液滴體積的導(dǎo)電液體（0.1%NH 4 CL），用以評價(jià)固體絕緣材料表面在電場和潮濕或污染介質(zhì)聯(lián)合作用下的耐漏電，測定其相比電痕化指數(shù) （CT1）和耐電痕化指數(shù)（PT1）。
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HCDH-200華測固體絕緣材料耐電痕化指數(shù)測試儀

更新時(shí)間：2024-06-04

型號：HCDH-200

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華測固體絕緣材料耐電痕化指數(shù)測試儀，主要是模擬家用電器產(chǎn)品在實(shí)際使用中不同極性帶電部件在絕緣材料表面沉積的導(dǎo)電物質(zhì)是否引起絕緣材料現(xiàn)在爬電、擊穿短路和起火危險(xiǎn)。電氣產(chǎn)品在使用過程中，由于環(huán)境的污染導(dǎo)致絕緣材料表面有污物、潮氣而產(chǎn)生的漏電，因此誘發(fā)的腐蝕而損壞絕緣。
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HCDH-200北京華測耐電痕化指數(shù)測試儀器

更新時(shí)間：2024-06-08

型號：HCDH-200

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北京華測耐電痕化指數(shù)測試儀器主要是模擬家用電器產(chǎn)品在實(shí)際使用中不同極性帶電部件在絕緣材料表面沉積的導(dǎo)電物質(zhì)是否引起絕緣材料現(xiàn)在爬電、擊穿短路和起火危險(xiǎn)。電氣產(chǎn)品在使用過程中，由于環(huán)境的污染導(dǎo)致絕緣材料表面有污物、潮氣而產(chǎn)生的漏電，因此誘發(fā)的腐蝕而損壞絕緣。
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