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塞貝克系數(shù)電阻測試儀先進功能材料電測綜合測試系統(tǒng)- 絕緣電阻劣化（離子遷移）評估系統(tǒng) 儲能新材料電學綜合測試系統(tǒng) 半導體封裝材料真空探針臺空間電荷測試系統(tǒng) 電容器溫度特性評估系統(tǒng) 高頻高壓絕緣電阻、介電多通道極化裝置鐵電分析儀高壓功率放大器絕緣電阻率測試儀高低溫冷熱臺測試系統(tǒng) 50點耐壓測試儀電壓擊穿測定儀耐電弧試驗儀探針臺漏電起痕試驗儀多通道介電與電阻測試系統(tǒng)

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Huace HV-10壓電陶瓷塊體多通道極化裝置

更新時間：2024-12-12

型號：Huace HV-10

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華測半導體封裝材料真空探針臺

更新時間：2024-12-12

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更新時間：2024-12-12

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儲能新材料電學綜合測試系統(tǒng)

更新時間：2024-12-12

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儲能新材料電學綜合測試系統(tǒng)可進行電壓擊穿（介電場強）、高低頻介電頻譜、溫譜、高溫絕緣電阻、熱釋電測試、TSDC熱刺激極化電流、充放電儲能密度測試、電聲脈沖法空間電荷測量、靜電電壓等。
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溫控探針臺冷熱臺測試儀器

更新時間：2024-10-31

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HC系列半導體封裝材料高壓TSDC測試系統(tǒng)

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型號：HC系列

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半導體封裝材料高壓TSDC測試系統(tǒng)，熱刺激去極化電流（TSDC）技術(shù)用于預測EMC的HTRB性能。TSDC方法包括極化過程，在該過程中，電介質(zhì)樣品暴露在高電場強度和高溫環(huán)境下。
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華測-高壓漏電起痕測試儀器

更新時間：2024-12-19

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華測-高壓漏電起痕測試儀器配合電壓、電流傳感器、高壓真空斷路開關(guān)、高壓交直流變壓器元件構(gòu)成。高壓漏電起痕試驗是在工頻電壓下,通過液體污染和傾斜試樣評定,在環(huán)境條件下使用的電氣絕緣材料耐漏電起痕和耐電蝕損。其評定的方法有兩種,即恒定漏電起痕電壓法和逐級升壓漏電起痕電壓法。
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