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塞貝克系數(shù)電阻測(cè)試儀先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng)- 絕緣電阻劣化（離子遷移）評(píng)估系統(tǒng) 儲(chǔ)能新材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 半導(dǎo)體封裝材料真空探針臺(tái) 空間電荷測(cè)試系統(tǒng) 電容器溫度特性評(píng)估系統(tǒng) 高頻高壓絕緣電阻、介電多通道極化裝置鐵電分析儀高壓功率放大器絕緣電阻率測(cè)試儀高低溫冷熱臺(tái)測(cè)試系統(tǒng) 50點(diǎn)耐壓測(cè)試儀電壓擊穿測(cè)定儀耐電弧試驗(yàn)儀探針臺(tái) 漏電起痕試驗(yàn)儀多通道介電與電阻測(cè)試系統(tǒng)

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PEA空間電荷測(cè)量?jī)x

更新時(shí)間：2025-01-13

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PEA空間電荷測(cè)量?jī)x 華測(cè)儀器選擇新型耐高溫共聚物壓電傳感器、重新設(shè)計(jì)電極系統(tǒng)，開(kāi)發(fā)了適用于高溫下(≤110℃)的PEA 法空間電荷測(cè)量系統(tǒng)，分析了溫度對(duì)壓電傳感器性能、聲信號(hào)的傳播特性和穿過(guò)介質(zhì)特性的影響，得出了對(duì)放大器輸出的電壓信號(hào)和空間電荷密度值的影響因素，進(jìn)而校正了溫度對(duì) PEA 測(cè)量系統(tǒng)的影響。
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HCCT-40H華測(cè)電容器溫度特性評(píng)估系統(tǒng)

更新時(shí)間：2024-12-06

型號(hào)：HCCT-40H

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華測(cè)電容器溫度特性評(píng)估系統(tǒng)（電介質(zhì)特性評(píng)估系統(tǒng)），將環(huán)境試驗(yàn)箱與測(cè)量和評(píng)估系統(tǒng)相結(jié)合，高效采集數(shù)據(jù)的自動(dòng)化多通道系統(tǒng)。
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PEA空間電荷測(cè)量系統(tǒng)/脈沖電聲法

更新時(shí)間：2024-12-11

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PEA空間電荷測(cè)量系統(tǒng)/脈沖電聲法，電聲脈沖法是一種無(wú)損的空間電荷測(cè)量技術(shù)。它用于描述聚合物絕緣材料內(nèi)部的空間電荷分布、積累及其整體行為?？臻g電荷觀測(cè)正在成為評(píng)估直流絕緣應(yīng)用(尤其是高壓電纜)中的聚合物材料測(cè)試時(shí)，使用廣泛的技術(shù)。
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HCDJC華測(cè)薄膜復(fù)合制品變溫極化耐擊穿試驗(yàn)機(jī)

更新時(shí)間：2025-04-07

型號(hào)：HCDJC

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華測(cè)薄膜復(fù)合制品變溫極化耐擊穿試驗(yàn)機(jī)采用計(jì)算機(jī)控制，通過(guò)人機(jī)對(duì)話方式，完成對(duì)絕緣介質(zhì)的工頻電壓擊穿，工頻耐壓試驗(yàn)。主要適用于固體絕緣材料如絕緣漆、樹(shù)脂和膠、浸漬纖維制品、云母及其制品、塑料、薄膜復(fù)合制品、陶瓷和玻璃等介質(zhì)在工頻電壓或直流電壓下?lián)舸?qiáng)度和耐電壓時(shí)間的測(cè)試；采用計(jì)算機(jī)控制，可對(duì)試驗(yàn)過(guò)程中的各種數(shù)據(jù)進(jìn)行快速、準(zhǔn)確的采集、處理，并可存取、顯示、打印。配合變溫油浴槽實(shí)現(xiàn)變溫極化耐擊穿試驗(yàn)。
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HCDJC-150KV絕緣漆層壓板介電擊穿強(qiáng)度試驗(yàn)儀

更新時(shí)間：2025-04-07

型號(hào)：HCDJC-150KV

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絕緣漆層壓板介電擊穿強(qiáng)度試驗(yàn)儀介電擊穿強(qiáng)度試驗(yàn)儀主要適用于固體絕緣材料如：塑料、薄膜、樹(shù)脂、云母、陶瓷、玻璃、絕緣漆等介質(zhì)在工頻電壓或直流電壓下?lián)舸?qiáng)度和耐電壓時(shí)間的測(cè)試。
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Huace HV-10華測(cè) 多通道高壓極化裝置

更新時(shí)間：2024-12-12

型號(hào)：Huace HV-10

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Huace HV-10華測(cè) 多通道高壓極化裝置借鑒國(guó)際xian進(jìn)的測(cè)試方法的基礎(chǔ)上，采用華測(cè)儀器自主研發(fā)的超低紋波、線性高壓直流電源、更科學(xué)穩(wěn)定的加熱電極，并配合計(jì)算機(jī)控制實(shí)現(xiàn)的多功能極化的裝置。
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HCMP華測(cè)多通道介電/電阻測(cè)試儀

更新時(shí)間：2024-12-12

型號(hào)：HCMP

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華測(cè)多通道介電/電阻測(cè)試儀，主要用于：多通道電阻、介電測(cè)試等可搭載阻抗分析儀、高阻計(jì)使用；光耦繼電器，高速又耐用；切換時(shí)間 1 ms；高速I(mǎi)/O 輸出控制。
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HCDH-3華測(cè)高壓漏電起痕測(cè)試儀CTI/PTI

更新時(shí)間：2024-12-19

型號(hào)：HCDH-3

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華測(cè)高壓漏電起痕測(cè)試儀，是指在固體絕緣材料表面，在電場(chǎng)和電解液的聯(lián)合作用下逐漸形成導(dǎo)電通路的過(guò)程。這個(gè)過(guò)程被稱(chēng)為漏電起痕，而絕緣材料表面抗漏電起痕的能力則稱(chēng)為耐漏電起痕。漏電起痕試驗(yàn)是評(píng)估絕緣材料在特定條件下的耐漏電性能的一種方法，通過(guò)模擬在潮濕或污染介質(zhì)聯(lián)合作用下的環(huán)境，測(cè)定材料的相比漏電起痕指數(shù)（CTI）和耐電痕化指數(shù)（PTI）。華測(cè)高壓漏電起痕測(cè)試儀CTI/PTI
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